# 关于碱熔-电感耦合等离子体发射光谱法测定全硅时试样制备的筛子选择 在碱熔-电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES）测定全硅的过程中，试样的制备是一个非常重要的步骤。对于筛子的选择，一般建议使用**160目**的筛子进行制备。 原因如下： 1. **粒度更细**：160目的筛子孔径比100目的筛子更小，能够筛选出更细的粉末。这对于后续的分析过程更为有利，因为更细的粉末可以更好地溶解和反应，提高分析的准确性和灵敏度。 2. **均匀性更好**：使用160目的筛子可以得到更均匀的试样，这有助于减少实验误差和提高结果的重现性。 3. **减少杂质干扰**：较细的筛子可以有效去除大颗粒杂质，从而减少对测定结果的干扰。 总的来说，为了获得更准确和可靠的分析结果，建议在碱熔-电感耦合等离子体发射光谱法测定全硅时，使用160目的筛子进行试样制备。
